KP3100 脑机电极温升测试仪

主要测试对象

• 脑机相关器件的温升试验（如脑机接口电极、柔性电极、微电极阵列等组件）
• 电极区域、周边区域及连接部位等多测点温升同步监测
• 医疗器械研发验证与实验室测试
• 第三方实验室的温升数据记录、归档与结果追溯
• 以测量精度不大于 ±0.5 ℃为计量核心的验收场景

可能测试项目

• 多通道光纤温度采集试验：不少于 9 个通道多点同步监测
• 测量范围与精度验证：10 ℃～50 ℃，示值与标准参考值比对，误差不大于 ±0.5 ℃
• 温度分辨率核验：不大于 0.1 ℃
• 通道映射核查：探头编号、采集通道与被测位置一一对应
• 通讯与记录验证：USB2.0 / Modbus RTU（波特率 ≥9600 bps），数据自动保存为 .csv
• 温升曲线实时显示与历史数据查询、归档

标准映射方向

• GB 16174.1（采购文件列示）
• GB/T 16540-1996（采购文件列示）

系统组成与核心特性

• 多通道光纤温度采集，通道数不少于 9 个，支持多点同步监测
• ST 型光纤接口接入温度测点，测量链路清晰、可核验、可记录
• 测量精度不大于 ±0.5 ℃，温度分辨率不大于 0.1 ℃
• USB2.0 数字信号输出，Modbus RTU 通讯协议，波特率 ≥9600 bps
• 上位机软件实时读取并显示各通道温度数据及温升曲线
• 按设置自动记录并保存至指定文件夹，文件格式 .csv，支持历史数据查询、归档和导出
• USB 供电（DC 5V），设备总功率不大于 6 W
• 测点布局灵活，可按被测器件结构和试验方案选择温度测点

在研发与实验室场景中，KP3100 脑机电极温升测试仪 用于脑机相关器件温升试验：覆盖电极关键工作区域、电极周边、邻近参考点及引线/连接部位等测点。设备通过脑机相关器件的温升试验（如脑机接口电极、柔性电极、微电极阵列等组件），帮助工程师在样机阶段发现问题、缩短验证周期。

在医疗器械检验机构与第三方实验室场景中，KP3100 脑机电极温升测试仪 支持研发验证：温升验证样品及工艺样品的温升试验研究。设备参数可按采购技术要求与标准条款配置，试验布置、数据记录与报告输出流程清晰，便于复核与归档。

在生产与质量控制场景中，KP3100 脑机电极温升测试仪 可用于出厂检验与批次抽测。不少于 9 通道光纤温度采集系统，测量范围 10～50 ℃、精度不大于 ±0.5 ℃，支持 Modbus RTU 通讯与 CSV 自动记录。 结合随设备的计量校准报告，可为质量体系提供可追溯的测试数据。